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變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀數(shù)據(jù)不合理？請(qǐng)不要忽略這些因素
發(fā)布日期：2021-06-16 點(diǎn)擊：3243次
如果變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀在使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：
1搭鉤接觸不良
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線(xiàn)氧化層太厚，或風(fēng)吹線(xiàn)擺動(dòng)，易造成接觸不良。
2接地接觸不良
接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)，應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！
4.3直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT
直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。
用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線(xiàn)端子盤(pán)即可，也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。
4.4空氣濕度過(guò)大
空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)，因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。
4.5發(fā)電機(jī)供電
發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。
4.6測(cè)試線(xiàn)
由于長(zhǎng)期使用，易造成測(cè)試線(xiàn)隱性斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽短路，或插頭接觸不良，用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線(xiàn)。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度。
自激法測(cè)量CVT時(shí)，非的高壓線(xiàn)應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。
4.7工作模式選擇
接好線(xiàn)后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正、反和CVT），不可選錯(cuò)，特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。
4.8試驗(yàn)方法影響
由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差，出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線(xiàn)，然后檢查是否為儀器故障。
4.9儀器故障
用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線(xiàn)是否斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路。輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低。接地是否良好。
用正、反接線(xiàn)測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒(méi)有問(wèn)題。
拔下所有測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。
啟動(dòng)CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出，應(yīng)出現(xiàn)2~5V電壓，否則儀器有故障。
